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    掃描型可見分光光度計的基線平直度調整

    發布時間:2021-08-04      點擊次數:981
    掃描型紫外可見分光光度計可通過建立標準曲線,顯示曲線圖譜和方程式,利用朗伯比爾定律輸入數據測試,可以自動調整波長,自動波長校準,自動數據存儲,采用64位點陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線和測試數據,主機可存儲測試數據,并可選配打印機打印。

    雙光束掃描型可見分光光度計是實驗室常規分析設備,它利用光譜分析方法對樣品進行定性、定量分析,在有機化學、無機化學、生物化學、生命科學、藥品分析、食品檢驗、醫藥衛生、環保、地質、冶金、石油、機械、商檢和農業等各個領域都有廣泛的應用。

    掃描型紫外可見分光光度計

     


    掃描型分光光度計通過PC掃描軟件可直接聯機操作,進行光度測量,定量分析(含標準曲線功能)、波長掃描、多波長測試、DNA/蛋白質和核酸測試等。

    掃描型分光光度計的基線平直度調整說明:

    基線平直度是指掃描透射比為100和0時基線傾斜或彎曲的程度。如果基線的平直性差,就會使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發生變化,給定性分析造成錯誤。導致基線不平直的主要原因是儀器的光學系統失調,兩光束不平衡。如儀器受震動,光源位置變動等都會引起光學系統故障(基線平直度要以吸光度表示)。有些設備對基線平直非常敏感,容易超出規程標準,因此在進行此項測量時要使機器充分預熱,光譜帶寬設為2 nm,并且在儀器遮光罩關閉后穩定2 min后再進行波長掃描。
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